熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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產(chǎn)品分類
Product CategoryPCI共光路干涉弱吸收儀測量原理:Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Pr...
角分辨散射測量系統(tǒng)-Horos簡易型散射儀角分辨散射測量系統(tǒng)-Horos(hight sensitive optical roughness sensor)簡易型散射儀 是一種小型的,便于移動的光學(xué)傳...
穆勒矩陣測量系統(tǒng)中采用四個光彈性調(diào)制器(PEM),150XT Mueller偏振計(jì)可以在短時間內(nèi)同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產(chǎn)品系列的這一新增功能可應(yīng)用...
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性,在生產(chǎn)車間和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研...
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