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LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當一束探測光經(jīng)過“熱透鏡”效應(yīng)區(qū)域時發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。